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SNJ54BCT8374AFK

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专业逻辑
Texas Instruments

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

参数名称 参数值
Product Status Active
Logic Type Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Supply Voltage 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Operating Temperature -55°C ~ 125°C
Mounting Type Surface Mount
Package / Case 28-CLCC
Supplier Device Package 28-LCCC (11.43x11.43)

新闻资讯

Texas Instruments 专业逻辑 产品 SNJ54BCT8374AFK

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